[Takusen] 低成本实现电子产品可靠性提升

葛涡 mjatog at gwm.com
Fri Aug 5 05:32:52 BST 2016


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发件人: "葛涡" ; <mjatog at gwm.com>;
发送时间: 2038-8-5 / 12:31:44
收件人: "takusen" <takusen at projects.haskell.org>;
 电子电器产品可靠性设计与试验 
   
 【课程全国独家,享受专属的学习体验,计划的开课时间】   
                                          
 2016年08月13-14日上海     2016年10月25-26日深圳 
   
 【参加对象】从事技术管理、设计开发、系统设计与测试、产品工程等岗位,包括总经理,研发总 
             监,总工程师,技术总监,产品经理,研发经理,质量经理,产品开发工程师,质量 
             工程师等。 
 【学习费用】 三千二百元一人 
 报报名咨询电话:O755-612-88.O35   O1O-516-61.863   021-312-61.58O  
 在线咨询 QQ:6983436 
 (报名请回复,课程名称+公司名称+参会人全名+联系方式 至信箱 6983436 at qq.com) 
   
 【定制服务】   
 1、培训前,请各位学员将遇到的各种问题和培训预期反馈给我们 
 2、接受内训或咨询服务,现场诊断+课题方案+指导改善+专家授课+案例分析+后期跟进与交流等 
   
 【课程背景】    
  随着电子产品的体积与重量日益缩小,技术含量不断扩大,智能化程度成倍提高,对电子产品可靠 
 性的要求已成为衡量其质量最重要的技术指标之一。可靠性不仅在国防、航天、航空等尖端技术领 
 域倍受关注,在工业、民用电子等领域也同样得到重视。国际领先企业非常重视产品的可靠性,并 
 将产品的可靠性贯穿于整个产品的设计、研发、和生产全过程,以确保产品质量。与发达国家相比 
 ,目前我国电子产品的可靠性亟待提高。 
   
 【课程特色】    
     1、授课内容包括了系统可靠性设计、电路可靠性设计规范、可靠性测试、元器件选型与失效分 
 析的成功经验和案例,授课为模板演示讲解、案例讨论和反串教学方式。注重应用背景,案例教学 
 ,看图说话,避免空洞理论和复杂公式. 
     2、授课专家有多年军工技术+电子制造行业技术双重经验,课程内容和授课方法着重于企业实 
 践技术和学员的消化吸收效果。 
     3、课程本着“从实践中来,到实践中去,用实践所检验”的思想,面向设计生产实际,针对具 
 体问题,充分结合同类公司现状,提炼出经过验证的军工和民用产品的可靠性设计实用方法,帮助 
 客户低成本实现产品可靠性提升。 
   
 【课程大纲】             
 第一部分:可靠性设计与失效分析 
 1、  电路可靠性设计基础 
 1.1、可靠性定义 
 1.2、环境应力分析 
 1.3、人机交互分析 
 1.4、关联设备互动分析 
 1.5、过渡过程应力 
 1.6、负载波动分析 
 1.7、单一故障分析 
 1.8、可靠性预计分析 
 1.9、判据标准 
 1.10 电子、机电一体化设备的可靠性模型; 
 1.11 系统失效率的影响要素; 
   
 2、 电路可靠性设计规范与设计工程计算 
 2.1 降额设计规范 
 2.2 电路热设计规范 
 2.3 电路安全性设计规范; 
 2.4 EMC设计规范 
 2.5 PCB设计规范 
 2.6 拉氏变换的物理含义与电路设计应用 
 2.7 微积分与电路设计的应用 
 2.8 概率论数理统计提升电子产品质量的应用方法 
 2.9 基础代数的电路设计工程计算应用(代数、三角函数、解析几何) 
 2.10 datasheet参数解读及对电路性能的影响 
   
 3、器件失效规律与分析方法 
 3.1 持续性应力与浪涌应力的区别 
 3.2 电压应力与电流应力的故障现象区别 
 3.3 MSD与机械应力损伤的特征、成因、解决措施 
 3.4 基于端口特性阻抗曲线的失效测试分析方法 
 3.5 常用器件失效机理、失效特征、应对措施 
   
 第二部分:可靠性测试试验 
 1、测试分类 
 2、测试输入内容 
 2.1、产品应用环境调查表 
 2.2、可靠性设计问答表Doc版 
 2.3、软件系统测试用例设计表excel版 
   
 3、可靠性测试用例设计方法3.1、标准符合性测试 
 3.2、用户模拟测试 
 3.3、基于失效机理的应力测试 
 3.4、边缘极限条件组合应力测试 
 3.5、过渡过程应力测试 
 3.6、应力变化率测试 
 3.7、一致性测试 
     3.8、HALT综合试验 
 3.9、基于单一故障的测试用例设计 
 3.10、寿命鉴定试验 
 3.11、以产品实物进行测试用例的设计研讨 
   
 【讲师简介】   武晔卿            
 电子http://www.xuezhi.cn/tab_20_153.html工程硕士。曾任航天二院总体设计所主任设计师、高 
 级项目经理,机电制造企业研发总监、事业部总监,北京市级优秀青年工程师,科协委员。 
 有电子产品、军工、通信等专业方向的设计、测评和技术管理经历,对产品系统设计、可靠性设计 
 、技术管理有较深入研究,曾在学术会议及多家技术刊物发表专业文章。曾为比亚迪、中电30所、 
 29所、松下电工、北京华峰测控、北京航天长峰、普析通用仪器、航天二院、航天五院、深圳普博 
 、伯特利阀门集团、北控高科、南车四方股份等企业提供专业技术和技术管理辅导、培训和咨询。 
 曾作为核心团队成员经历一个企业由零到几个亿、研发团队由几个人到近二百人的发展过程,深谙 
 企业发展过程的产品可靠性问题和解决方法。 
 主讲课程:《电路系统可靠性设计》、《嵌入式软件可靠性设计》、《电子系统测试》、《电子电 
 器产品电磁兼容分析设计》等。 
   
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